美信檢測  失效分析實(shí)驗(yàn)室

【摘要】本文通過FIB的高精度定位切割功能，配合場發(fā)射SEM/EDS，綜合分析ITO截面的尺寸和腐蝕產(chǎn)物元素成分，為產(chǎn)品質(zhì)量提供快捷有效的證據(jù)。

【關(guān)鍵詞】 ITO，失效分析，FIB

1. 引言

失效樣品為手機(jī)顯示屏，具體失效位置在前端IC位置，失效現(xiàn)象是ITO出現(xiàn)出現(xiàn)腐蝕導(dǎo)致顯示異常，如下圖所示，需具體分析失效的原因。

圖1.ITO表面缺陷SEM觀察圖

2. 試驗(yàn)與結(jié)果

圖2.失效位置截面觀察圖
圖3.正常位置截面觀察圖
圖4.失效位置EDS測試譜圖圖
圖5.正常位置EDS測試譜圖圖

3. 結(jié)論

根據(jù)測試結(jié)果，對比OK和正常位置的成分，推斷可能是ITO位置有Mg、K、Ga的鹽類或堿污染，在使用過程中環(huán)境中的水分子在濃度梯度作用下滲透進(jìn)ITO位置，形成導(dǎo)電溶液，在通電情況下形成電化學(xué)腐蝕造成的。

4. 參考文獻(xiàn)

GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析  

JY/T 010-1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則

*** 以上內(nèi)容均為原創(chuàng)，如需轉(zhuǎn)載，請注明出處 ***

MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質(zhì)檢驗(yàn)、鑒定、認(rèn)證及失效分析服務(wù)的第三方實(shí)驗(yàn)室，網(wǎng)址：www.sz8668.cn，聯(lián)系電話：400-850-4050。