2016年11月3-5日，第十三屆“中國光谷”國際光電子博覽會暨論壇（簡稱“光博會”）將于武漢國際博覽中心盛大開幕，光博會由國家九部委和湖北省政府聯合主辦，創辦至今已成功舉辦十二屆，累計全球30多個國家和地區的4500余家知名企業參展，35萬多專業觀眾參觀，舉辦120多場論壇。

美信檢測長期致力于電子電器行業的技術檢測，受邀參加該展會，同時也為即將蒞臨展會現場的專業觀眾準備了諸多個驚喜，與各位技術大咖們共享高端技術的饕餮盛宴。展會現場，美信檢測將為您展示：

電子產品失效分析

項目介紹：失效分析對產品的生產和使用都具有重要的意義，失效可能發生在產品壽命周期的各個階段，發生在產品研制階段、生產階段到使用階段的各個環節，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現場失效的失效產品明確失效模式、分析失效機理，最終明確失效原因。

資質證書：中國機械工程學會失效分析分會網點單位

檢測項目：PCB/PCBA失效分析、電子元器件失效分析、金屬材料及零部件失效分析、高分子材料失效分析、復合材料失效分析、涂/鍍層失效分析。

PCB爆板	PCB電化學遷移
光耦缺陷分析	PCB界面分層失效

電子產品全面解決方案

項目介紹：美信檢測專業技術工程師在電子元器件、光電器件領域擁有豐富的經驗，在產品的的質量評價、失效分析等方面積累了大量的實際案例，可針對客戶在研發、認證、生產及客服投訴等不同階段提供不同的解決方案，使客戶可以快速解決問題，搶占市場先機。

檢測項目：PCB/PCBA全面解決方案、LED全面解決方案、新材料、汽車材料、航空材料。

PCB-BGA焊球開路	PCB上錫不良
LED基板蝕刻線路開路	LED綁定點開裂

三維X射線掃描（CT掃描）

項目介紹：CT是采用機算計斷層掃描技術對產品進行無損檢測 （NDT）和無損評價（NDE）的便捷手段。利用斷層成像技術，可實現產品無損可視化測量、組裝瑕疵或材料分析。CT掃描取代傳統的破壞性監測和分析，任何方向上的非破壞性切片和成像，不受周圍細節特征的遮擋，可直接獲得目標特征的空間位置、形狀及尺寸信息。

檢測項目：缺陷分析、尺寸測量、逆向工程、數模比對

PCB-BGA焊球開路	PCB上錫不良
LED基板蝕刻線路開路	LED綁定點開裂

美信檢測非常感謝長期以來每一位客戶的支持與關注，在此誠邀您蒞臨我司展位參觀洽談。

福利來襲

1.來了就送精美禮品；

2.展會現場精彩活動，技術搭配娛樂，您的不二選擇；

3.2016行業經典案例解析期刊，技術大咖的掌上資料庫，您值得擁有。

*** 結束 ***

MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質檢驗、鑒定、認證及失效分析服務的第三方實驗室，網址：www.sz8668.cn，聯系電話：400-850-4050。