參會邀請 | 功能失效芯片的缺陷定位方法
2022-07-13 瀏覽量：290
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為助力高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展，提升企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量管控能力，美信檢測將于2022年7月28日參加由雅時國際商訊主辦的“現(xiàn)代檢測技術(shù)的創(chuàng)新發(fā)展與機遇”技術(shù)研討會。美信檢測半導(dǎo)體事業(yè)部總經(jīng)理崔風(fēng)洲將針對市場需求與行業(yè)發(fā)展要求，從檢測角度出發(fā)，與企業(yè)分享美信在業(yè)內(nèi)的失效分析技術(shù)經(jīng)驗。
會議詳情
會議時間：2022年7月28日
會議形式：線上直播
報名方式：掃描下方二維碼免費報名參會
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會議議程
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