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形貌觀察與測量

背景：

錫須是在純錫或錫合金鍍層表面自發生長出來的一種細長形狀的錫的結晶。在電子線路中，錫須會引起短路，降低電子器件的可靠性，甚至引發電子器件故障或失效。由于錫須通常在電鍍之后幾年甚至幾十年才開始生長，因而會對產品的可靠性造成潛在的危害比較大。

出于環保、人類自身健康的考慮，我國以及日本、歐盟、美國等國家或地區相繼出臺相關法規或法令明文限制或禁止在電子電氣設備中使用鉛，使電子產品無鉛化。電子行業無鉛化的趨勢，意味著電子工業中最廣泛應用的Sn-Pb焊料將成為歷史，同時廣泛應用的Sn-Pb也將被新的金屬或合金所取代，作為可能的替代者，純Sn， Sn-Bi， Sn-Ag-Cu經研究表明，均有潛在的錫須自發生長問題。

應用范圍：

電子元器件、汽車電子、醫療、通訊、手機、電腦、電氣等。

測試步驟：

對樣品進行表面鍍鉑金，放入掃描電子顯微鏡樣品室中，對客戶要求的測試位置進行放大觀察并測量。

參考標準：

JESD 22A121.01 Test Method for Measuring Whisker Growth on Tin and Tin Alloy Surface Finishes

JESD201A Environmental Acceptance Requirements for Tin Whisker Susceptibility of Tin and Tin Alloy Surface Finishes

IEC 60068-2-82-2009 Environmental testing - Part 2-82: Whisker test methods for electronic and electric components

典型圖片：