
玻璃鈍化層完整性檢查是通過評估SiO?、Si?N?等玻璃態薄膜的連續性、致密性及缺陷狀態,確保鈍化層能有效隔離水汽、離子等污染物并抑制表面漏電,從而直接保障半導體器件的長期可靠性,避免因鈍化層失效引發的性能退化或功能故障。
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| 項目概述
玻璃鈍化層(Glass Passivation Layer)完整性檢查是通過顯微觀察、電性能測試或特殊檢測技術,評估半導體器件表面玻璃鈍化層(通常為 SiO?、Si?N?等玻璃態薄膜)的連續性、致密性及缺陷狀態的試驗。玻璃鈍化層作為芯片表面的保護層,可隔離外界污染物(如水汽、離子)并抑制表面漏電,其完整性直接影響器件的可靠性。
| 測試目的
1、缺陷篩查:檢測玻璃鈍化層的物理缺陷(如裂紋、針孔、剝落)和結構異常,避免因保護層失效導致器件短路或腐蝕。
2、電性能驗證:確認鈍化層的絕緣性和抗擊穿能力,防止表面漏電或電場集中引發的器件失效。
3、工藝評估:驗證鈍化層沉積工藝(如 PECVD、LPCVD)的均勻性和致密性,優化薄膜生長參數(如溫度、氣體配比)。
4、可靠性預測:評估鈍化層在環境應力(如高溫、潮濕、輻射)下的穩定性,預測器件長期使用中的失效風險。
5、失效分析:當器件出現表面漏電或腐蝕失效時,通過鈍化層完整性檢查定位根因(如薄膜沉積缺陷、應力開裂)。
| 試驗標準
GJB 4027B-2021、MIL-STD-883H、GJB 548C-2021。
| 服務產品/領域
功率半導體器件、集成電路與芯片、傳感器與光電器件、軍工與航天電子、汽車電子與能源領域。
| 美信優勢
1、專業團隊:擁有多名經驗豐富的檢測工程師和技術專家。
2、先進設備:配備國際領先的檢測設備,確保檢測結果的準確性和可靠性。
3、缺陷精準定位:可檢測從微米級裂紋到納米級針孔的全尺度缺陷,提升檢測分辨率。
4、高效服務:快速響應客戶需求,提供一站式高效檢測服務。
5、權威認證:實驗室通過ISO/IEC 17025認證,檢測報告具有國際公信力。