
在電子產(chǎn)品制造領(lǐng)域,鍍層質(zhì)量對產(chǎn)品的性能、可靠性和壽命具有至關(guān)重要的影響。為確保印制電路板(PCB/FPC)、元器件及電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)件等關(guān)鍵部件的鍍層質(zhì)量,需采用科學(xué)的方法對鍍層工藝進(jìn)行確認(rèn)。
| 項(xiàng)目背景
在電子產(chǎn)品制造領(lǐng)域,鍍層質(zhì)量對產(chǎn)品的性能、可靠性和壽命具有至關(guān)重要的影響。為確保印制電路板(PCB/FPC)、元器件及電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)件等關(guān)鍵部件的鍍層質(zhì)量,需采用科學(xué)的方法對鍍層工藝進(jìn)行確認(rèn)。
| 項(xiàng)目概述
采用切片制樣的方法,將鍍層樣品制作成橫截面,利用掃描電子顯微鏡(SEM)與X射線能譜儀(EDS)對每一層鍍層的厚度與元素成分進(jìn)行詳細(xì)分析。
通過高精度的測量與數(shù)據(jù)分析,確認(rèn)鍍層的實(shí)際厚度與元素分布,為鍍層工藝的優(yōu)化與改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。
| 測試目的
1. 確認(rèn)鍍層厚度:精確測量鍍層各層的實(shí)際厚度,確保其符合設(shè)計(jì)規(guī)格。
2. 分析元素成分:鑒定鍍層中各元素的種類與含量,驗(yàn)證是否符合預(yù)期的材料組成。
3. 確認(rèn)鍍層工藝:根據(jù)鍍層厚度與元素成分的分析結(jié)果,評估并確認(rèn)鍍層工藝的可行性與穩(wěn)定性。
| 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
ASTM B487 用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
GB/T 17359 微束分析 原子序數(shù)不小于11的元素能譜法定量分析
| 服務(wù)產(chǎn)品/領(lǐng)域
涉及的產(chǎn)品:印制電路板 PCB/FPC,元器件、電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)件
涉及的領(lǐng)域:消費(fèi)電子、汽車電子、航空航天電子產(chǎn)品
| 美信優(yōu)勢
1、專業(yè)團(tuán)隊(duì):擁有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測工程師和技術(shù)專家。
2、先進(jìn)設(shè)備:配備國際領(lǐng)先的檢測設(shè)備,確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
3、高效服務(wù):快速響應(yīng)客戶需求,提供一站式高效檢測服務(wù)。
4、權(quán)威認(rèn)證:實(shí)驗(yàn)室通過ISO/IEC 17025認(rèn)證,檢測報(bào)告具有國際公信力。