印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內(nèi)在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設(shè)計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計、制造、封裝及應用環(huán)節(jié)的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統(tǒng)宕機,更常引發(fā)設(shè)計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經(jīng)濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應商與用戶間的責任糾紛及重大經(jīng)濟損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
美信檢測以海量失效數(shù)據(jù)庫構(gòu)建技術(shù)優(yōu)勢,全譜系案例、復雜場景方案、頭部企業(yè)合作及體系化知識產(chǎn)權(quán),各展其能。憑借百萬級失效解析積累,精準洞察本質(zhì),讓檢測報告為客戶質(zhì)量升級提供有力支撐,實現(xiàn)失效歸零。
實時更新美信檢測最新資訊,包括技術(shù)、展會、活動等動態(tài)。我們以專業(yè)檢測為基石,為客戶定制解決方案,從源頭把控質(zhì)量,助力客戶在市場競爭中脫穎而出,實現(xiàn)商業(yè)成功。
美信檢測一家具有國家認可資質(zhì)的商業(yè)第三方實驗室 我們專注于為客戶提供檢測服務、技術(shù)咨詢服務和解決方案服務,服務行業(yè)涉及電子制造、汽車電子、半導體、航空航天材料等領(lǐng)域。
美信檢測在深圳、蘇州和北京均建有實驗基地,設(shè)立了多學科檢測和分析實驗室。公司基于材料科學工程和電子可靠性工程打造工業(yè)醫(yī)院服務模式。
專業(yè)檢測網(wǎng)站,數(shù)據(jù)精準洞察,為投資者筑牢信任基石
透射電子顯微鏡(TEM)

透射電子顯微鏡(TEM)試驗基于電子束波動性原理,電子槍發(fā)射高能電子束,經(jīng)聚光鏡會聚后穿透樣品,再通過物鏡、中間鏡和投影鏡等電磁透鏡系統(tǒng)接力放大成像于熒光屏或記錄系統(tǒng)。?

透射電子顯微鏡(TEM)

| 項目概述

 

透射電子顯微鏡(TEM)試驗基于電子束波動性原理,電子槍發(fā)射高能電子束,經(jīng)聚光鏡會聚后穿透樣品,再通過物鏡、中間鏡和投影鏡等電磁透鏡系統(tǒng)接力放大成像于熒光屏或記錄系統(tǒng)。?

其顯著優(yōu)勢在于:分辨率可達 0.05nm,能捕捉原子級細節(jié);放大倍數(shù)超 100 萬倍,可實現(xiàn)原子級分辨;還可結(jié)合能譜儀,對晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布及元素成分進行定性定量分析。該技術(shù)在材料科學中助力研究金屬、半導體等微觀結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系,在生命科學中用于觀察細胞超微結(jié)構(gòu)及病毒形態(tài),在物理學領(lǐng)域為納米材料研究提供關(guān)鍵實驗依據(jù)。

 

 

 

| 測試目的

 

1.觀測微觀形貌與結(jié)構(gòu):借助高分辨率(可達 0.05nm)和超百萬倍放大能力,觀察材料、生物樣本等的納米級微觀結(jié)構(gòu)(如晶體晶格、細胞細胞器、納米顆粒形貌),揭示原子級排列與缺陷分布。?

2.分析物質(zhì)成分與特性:結(jié)合能譜儀等附件,對樣品晶體結(jié)構(gòu)、元素成分進行定性定量分析,探究材料缺陷、位錯等與性能的關(guān)聯(lián),或解析生物大分子空間構(gòu)象。?

3.服務多領(lǐng)域研究需求:在材料科學中指導新材料研發(fā),在生命科學中闡釋疾病機制,在物理學中為納米技術(shù)提供實驗依據(jù),實現(xiàn)從微觀結(jié)構(gòu)到宏觀性能的關(guān)聯(lián)研究。

 

 

 

| 試驗標準

 

 GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標準物質(zhì)校準圖像放大倍率的方法

GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法。

 

 

 

| 服務產(chǎn)品/領(lǐng)域

 

透射電子顯微鏡應用廣泛。在材料科學領(lǐng)域,可研究金屬、陶瓷等微觀結(jié)構(gòu),助力新材料研發(fā);生命科學中,能觀察細胞、病毒等超微結(jié)構(gòu),輔助疾病機制研究;半導體行業(yè)里,用于芯片內(nèi)部原子結(jié)構(gòu)觀測、缺陷分析,提升芯片生產(chǎn)良率,也為顯示技術(shù)發(fā)展提供支持

 

 

 

| 項目優(yōu)勢

 

高分辨率:可達 0.05nm,能捕捉原子級微觀結(jié)構(gòu)細節(jié)。?

超大放大倍數(shù): 100 萬倍,實現(xiàn)原子級分辨成像。?

多功能分析:可結(jié)合能譜儀等,同步分析晶體結(jié)構(gòu)、元素成分及缺陷分布。?

跨領(lǐng)域適用性:覆蓋材料科學、生命科學、半導體等多領(lǐng)域微觀研究需求。?

無損 / 低損檢測:如冷凍電鏡技術(shù)可降低電子束對生物樣品的損傷。?

動態(tài)觀測能力:部分機型可實現(xiàn)原位動態(tài)過程(如相變、生長)的實時監(jiān)測。

 

 

 

| 美信優(yōu)勢

 

1、專業(yè)團隊:擁有多名經(jīng)驗豐富的檢測工程師和技術(shù)專家。

2先進設(shè)備:配備國際領(lǐng)先的檢測設(shè)備,確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性。

3高效服務:快速響應客戶需求,提供一站式高效檢測服務。

4權(quán)威認證:實驗室通過ISO/IEC 17025認證,檢測報告具有國際公信力。

常見問題
  • 常規(guī)樣品要求?
    試驗前需對樣品特殊制備:塊狀樣品用超薄切片機切成約 50nm 的薄片;粉末樣品懸浮于溶劑后滴至載體膜;液體樣品則借助含硅氮化物窗口的液體池支架觀測。?
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