
透射電子顯微鏡(TEM)試驗基于電子束波動性原理,電子槍發(fā)射高能電子束,經(jīng)聚光鏡會聚后穿透樣品,再通過物鏡、中間鏡和投影鏡等電磁透鏡系統(tǒng)接力放大成像于熒光屏或記錄系統(tǒng)。?
| 項目概述
透射電子顯微鏡(TEM)試驗基于電子束波動性原理,電子槍發(fā)射高能電子束,經(jīng)聚光鏡會聚后穿透樣品,再通過物鏡、中間鏡和投影鏡等電磁透鏡系統(tǒng)接力放大成像于熒光屏或記錄系統(tǒng)。?
其顯著優(yōu)勢在于:分辨率可達 0.05nm,能捕捉原子級細節(jié);放大倍數(shù)超 100 萬倍,可實現(xiàn)原子級分辨;還可結(jié)合能譜儀,對晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布及元素成分進行定性定量分析。該技術(shù)在材料科學中助力研究金屬、半導體等微觀結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系,在生命科學中用于觀察細胞超微結(jié)構(gòu)及病毒形態(tài),在物理學領(lǐng)域為納米材料研究提供關(guān)鍵實驗依據(jù)。
| 測試目的
1.觀測微觀形貌與結(jié)構(gòu):借助高分辨率(可達 0.05nm)和超百萬倍放大能力,觀察材料、生物樣本等的納米級微觀結(jié)構(gòu)(如晶體晶格、細胞細胞器、納米顆粒形貌),揭示原子級排列與缺陷分布。?
2.分析物質(zhì)成分與特性:結(jié)合能譜儀等附件,對樣品晶體結(jié)構(gòu)、元素成分進行定性定量分析,探究材料缺陷、位錯等與性能的關(guān)聯(lián),或解析生物大分子空間構(gòu)象。?
3.服務多領(lǐng)域研究需求:在材料科學中指導新材料研發(fā),在生命科學中闡釋疾病機制,在物理學中為納米技術(shù)提供實驗依據(jù),實現(xiàn)從微觀結(jié)構(gòu)到宏觀性能的關(guān)聯(lián)研究。
| 試驗標準
GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標準物質(zhì)校準圖像放大倍率的方法
GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法。
| 服務產(chǎn)品/領(lǐng)域
透射電子顯微鏡應用廣泛。在材料科學領(lǐng)域,可研究金屬、陶瓷等微觀結(jié)構(gòu),助力新材料研發(fā);生命科學中,能觀察細胞、病毒等超微結(jié)構(gòu),輔助疾病機制研究;半導體行業(yè)里,用于芯片內(nèi)部原子結(jié)構(gòu)觀測、缺陷分析,提升芯片生產(chǎn)良率,也為顯示技術(shù)發(fā)展提供支持 。
| 項目優(yōu)勢
高分辨率:可達 0.05nm,能捕捉原子級微觀結(jié)構(gòu)細節(jié)。?
超大放大倍數(shù):超 100 萬倍,實現(xiàn)原子級分辨成像。?
多功能分析:可結(jié)合能譜儀等,同步分析晶體結(jié)構(gòu)、元素成分及缺陷分布。?
跨領(lǐng)域適用性:覆蓋材料科學、生命科學、半導體等多領(lǐng)域微觀研究需求。?
無損 / 低損檢測:如冷凍電鏡技術(shù)可降低電子束對生物樣品的損傷。?
動態(tài)觀測能力:部分機型可實現(xiàn)原位動態(tài)過程(如相變、生長)的實時監(jiān)測。
| 美信優(yōu)勢
1、專業(yè)團隊:擁有多名經(jīng)驗豐富的檢測工程師和技術(shù)專家。
2、先進設(shè)備:配備國際領(lǐng)先的檢測設(shè)備,確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性。
3、高效服務:快速響應客戶需求,提供一站式高效檢測服務。
4、權(quán)威認證:實驗室通過ISO/IEC 17025認證,檢測報告具有國際公信力。